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逻辑芯片等将驱动ALD设备快速渗透 市场由境外厂商垄断 国产实现技术突破

前言

原子层沉积(Atomic Layer Deposition,ALD)设备是薄膜沉积设备的细分种类之一。目前ALD设备在薄膜沉积设备中的占比最小,渗透率远低于CVD设备、PVD设备。

ALD设备可以实现高深宽比、极窄沟槽开口的优异台阶覆盖率及精确薄膜厚度控制,在45nm及以下制程中发挥重要作用。随着逻辑芯片进入GAA时代以及3D DRAM、3D NAND发展,ALD设备有望成为半导体晶圆设备中增长最快的领域之一。数据显示,2020年全球ALD设备市场规模为19亿美元,根据预计,2020-2025年全球ALD设备年复合增速达26.3%。

目前半导体ALD设备仍基本由荷兰先晶半导体(ASM)、日本东京电子(TEL)、美国泛林(Lam)和应用材料(AMAT)等境外厂商垄断,其中荷兰先晶半导体(ASM)、日本东京电子(TEL)是ALD设备行业的双巨头,两者市场占有率合计接近50%。

近年来ALD技术因其良好的市场空间和丰富的应用场景受到关注,国内竞争者开始出现,代表包括微导纳米、拓荆科技和北方华创等。半导体ALD设备的国产化实现了从0到1的突破,部分发展速度较快的厂商的产品性能甚至已可媲美国际产品。未来随着技术水平不断提升,国产设备有望快速占领市场。

、ALD设备在薄膜沉积设备中的占比最小,渗透率远低于CVD设备PVD设备

原子层沉积(Atomic Layer Deposition,ALD)设备是薄膜沉积设备的细分种类之一。目前ALD设备市场占有率仅为11%,远低于CVD设备(56%)及PVD设备(23%)。

原子层沉积(Atomic Layer Deposition,ALD)设备是薄膜沉积设备的细分种类之一。目前ALD设备市场占有率仅为11%,远低于CVD设备(56%)及PVD设备(23%)。

资料来源:观研天下整理

资料来源:观研天下整理

数据来源:观研天下数据中心整理

下游驱动,ALD设备有望成为半导体晶圆设备中增长最快的领域之一

三种薄膜沉积设备互为技术补充,其中ALD设备可以实现高深宽比、极窄沟槽开口的优异台阶覆盖率及精确薄膜厚度控制,在45nm及以下制程中发挥重要作用。

三种薄膜沉积技术对比

技术路线对比 PVD CVD ALD
沉积原理 物理气相沉积 化学气相反应 化学表面饱和反应
沉积过程 成核生长 成核生长 逐层饱和反应
沉积速度
均匀性控制能力 5nm 左右 0.5-2nm 0.07-0.1nm
薄膜质量 化学配比一般,针孔数量高,应力控制有限 具有很好的化学配比,针孔数量少,具有应力控制能力 具有很好的化学配比,针孔数量少,具有应力控制能力
阶梯覆盖能力
工艺环境(温度、压强、流场等) 对真空度的要求较高,镀膜具有方向性 对工艺参数的变化较为敏感 基于表面化学饱和反应,工艺参数可调整范围较大

资料来源:观研天下整理

资料来源:观研天下整理

资料来源:观研天下整理

随着逻辑芯片进入GAA时代以及3D DRAM、3D NAND发展,ALD设备有望成为半导体晶圆设备中增长最快的领域之一。

1.逻辑芯片

GAA技术采用钼金属取代传统的CVD钨和PVD铜以降低电阻,并提高芯片速度和整体性能。ALD可以提升钼等新金属的粘附性和稳定性,使其在微缩工艺下仍然保持优异的性能;GAA技术依赖于选择性沉积工艺以增加准确性并减少成本,而ALD可以在高纵横比结构中实现均匀沉积的特性在其中至关重要。此外,硅外延也是GAA的一项关键技术,用于构建晶体管的核心——纳米级厚度硅片。随着逻辑芯片进入GAA时代,ALD设备需求将随之增加。

GAA技术采用钼金属取代传统的CVD钨和PVD铜以降低电阻,并提高芯片速度和整体性能。ALD可以提升钼等新金属的粘附性和稳定性,使其在微缩工艺下仍然保持优异的性能;GAA技术依赖于选择性沉积工艺以增加准确性并减少成本,而ALD可以在高纵横比结构中实现均匀沉积的特性在其中至关重要。此外,硅外延也是GAA的一项关键技术,用于构建晶体管的核心——纳米级厚度硅片。随着逻辑芯片进入GAA时代,ALD设备需求将随之增加。

资料来源:观研天下整理

2.3D DRAM

3D DRAM的发展需要进一步依赖ALD和EPI工艺,以支持更复杂的堆叠结构。这些工艺能够确保在高纵横比的结构中实现均匀沉积,并优化接触电阻,从而提升存储密度和性能。

为了实现DRAM架构(如6F²)的持续缩放和高密度化,需要新的ALD和EPI工艺:低电阻字线金属通过ALD沉积的高导电性金属层,减少了字线的电阻,提升了数据传输速度; Low-K间隙和气隙结构能够降低寄生电容,减少信号干扰,提升数据读取性能; ALD技术可以沉积高质量的氧化物层,确保DRAM中晶体管的可靠性和性能; Epi工艺可生成均匀的低电阻接触材料,提升电流流动效率。

在DRAM的外围电路部分,ALD和EPI工艺也有重要作用: ALD高K材料(HfSiO和HfO)用于提高电容器的介电性能和存储单元的稳定性;偶极层(LaO)和工作函数金属(TiN)通过ALD工艺实现,确保晶体管的阈值电压控制更精准;外延EPI材料用于应变增强,提高电荷迁移率,从而提升电路性能。

3.3D NAND

3D NAND的叠层结构对ALD设备功能要求更高,多层次沉积使得ALD设备价量比重上升。3D NAND可以克服2D NAND 的容量限制,3D NAND 架构可在不牺牲数据完整性的情况下扩展到更高的密度。与存储单元水平堆叠的2D NAND 不同,3D NAND 使用多层垂直堆叠,以实现更高的密度、更低的功耗、更好的耐用性、更快的读写速度和更低的成本。为了实现3D NAND堆叠,需要在多个层次上进行精确的薄膜沉积,以确保每一层的厚度和均匀性符合设计要求。ALD(原子层沉积)技术在此过程中尤为关键,因为它们能够提供出色的薄膜均匀性和精确的厚度控制。相较于2D NAND,3D NAND中ALD比重由18%上升至26%。

3D NAND的叠层结构对ALD设备功能要求更高,多层次沉积使得ALD设备价量比重上升。3D NAND可以克服2D NAND 的容量限制,3D NAND 架构可在不牺牲数据完整性的情况下扩展到更高的密度。与存储单元水平堆叠的2D NAND 不同,3D NAND 使用多层垂直堆叠,以实现更高的密度、更低的功耗、更好的耐用性、更快的读写速度和更低的成本。为了实现3D NAND堆叠,需要在多个层次上进行精确的薄膜沉积,以确保每一层的厚度和均匀性符合设计要求。ALD(原子层沉积)技术在此过程中尤为关键,因为它们能够提供出色的薄膜均匀性和精确的厚度控制。相较于2D NAND,3D NAND中ALD比重由18%上升至26%。

数据来源:观研天下数据中心整理

数据显示,2020年全球ALD设备市场规模为19亿美元,根据预计,2020-2025年全球ALD设备年复合增速达26.3%,成为晶圆制造设备中增长最快的细分品类。

数据显示,2020年全球ALD设备市场规模为19亿美元,根据预计,2020-2025年全球ALD设备年复合增速达26.3%,成为晶圆制造设备中增长最快的细分品类。

数据来源:观研天下数据中心整理

、ALD设备市场被荷兰先晶半导体、日本东京电子境外厂商垄断

目前半导体ALD设备仍基本由荷兰先晶半导体(ASM)、日本东京电子(TEL)、美国泛林(Lam)和应用材料(AMAT)等境外厂商垄断,其中荷兰先晶半导体(ASM)、日本东京电子(TEL)是ALD设备行业的双巨头,两者市场占有率合计接近50%。

国外半导体ALD设备厂商简介

企业名称 总部 成立时间 产品简介
ASM 荷兰 1968年 产品涵盖晶圆加工技术的重要方面,包括光刻、沉积、离子注入和单晶圆外延。近年来,该公司将 ALD和PEALD技术引入先进制造商的主流生产。
TEL 日本 1963年 日本最大的半导体成膜、刻蚀设备公司,产品线中包含 ALD 设备。
Lam 美国 1980年 公司产品线涵盖薄膜沉积、刻蚀、剥离和清洗等多个类型。
AMAT 美国 1967年 产品横跨ALD 、CVD、PVD、刻蚀、CMP、RTP等除光刻机外的几乎所有半导体设备。

资料来源:观研天下整理

、ALD设备国产化突破,部分产品已可媲美国际产品

根据观研报告网发布的《中国ALD设备行业发展深度研究与投资前景分析报告(2024-2031年)》显示,近年来ALD技术因其良好的市场空间和丰富的应用场景受到关注,国内竞争者开始出现,代表包括微导纳米、拓荆科技和北方华创等。微导纳米设备主要为TALD,主要用于沉积金属薄膜,拓荆科技为PEALD设备,主要沉积SiO2等非金属薄膜。

国产ALD设备布局情况

公司名称

ALD产品类型

ALD产品应用领域

ALD 产品产业化情况

微导纳米

TALD

300mm(12英寸)晶圆的 High-k 栅氧层薄膜沉积

产业化应用

存储芯片的高k栅电容介质层(单元和多元掺杂介质层)和覆盖层、半导体量子器件超导材料导电层、第三代化合物半导体钝化层和过渡层

产业化验证

PEALD

第三代化合物半导体钝化层和过渡层

产业化验证

北方华创

TALD

HKMG工艺

产业化应用

PEALD

用于沉积 Si02SiNxTiNAIN等多种膜层

未披露

拓荆科技

PEALD

SADP 工艺、STI表面薄膜

产业化应用

PEALD

应用于 128 层以上3D NAND FLASH存储芯片、19/17nm DRAM 存储芯片晶圆制造,可以沉积Si02 SiN介质材料薄膜

产业化验证

TALD

应用于逻辑芯片28nm 以下制程,沉积A1203AIN等多种金属化合物薄膜材料

研究中

资料来源:观研天下整理

半导体ALD设备的国产化实现了从0到1的突破,部分发展速度较快的厂商的产品性能甚至已可媲美国际产品。如微导纳米公司半导体ALD设备的设备产能、平均故障间隔时间、平均修复时间、均匀性、薄膜颗粒控制、金属污染控制等多个技术指标已达到国际同类设备水平,此外,反应源的可拓展性、机台稳定运行时间等部分指标数据占有优势。未来随着技术水平不断提升,国产设备有望快速占领市场。

半导体ALD设备国际同类半导体ALD设备对比

产品关键性能参数 国际同类设备水平 微导纳米设备水平
设备产能(片/小时) 12 12
反应源(镀膜原材料) 2个(温度可控RT-200℃),2个反应气体源 4个(温度可控RT-250℃),2个反应气体源
机台稳定运行时间(Uptime) 80% >85%
平均故障间隔时间(MTBF) >200小时 >200小时
平均破片率(MWBB) <1@100.000 <1@100,000
平均修复时间(MTTR) <6小时 <6小时
薄膜片内均匀性(1sigma,3mmEE) <1.2% <1.2%
薄膜片间均匀性(1sigma,3mmEE) <0.5% <0.5%
薄膜颗粒控制 Adders<5@60nm Adders<5@60nm
金属污染控制 <2E10(原子/平方厘米) <2E10(原子/平方厘米)

资料来源:观研天下整理(zlj)

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